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芯片测试
  • RFID标签芯片的灵敏度是芯片刚刚被激活所需的最小能量。灵敏度是标签芯片最重要的性能指标,它的大小直接影响RFID标签的性能,例如标签读/写距离等。因此标签芯片灵敏度准确测试是芯片测试的重要内容之一。
  • 本文分析和设计了应用于超高频无源射频标签的射频接口电路,并利用0.18m工艺流片验证。根据芯片测试结果,该射频接口电路能够在读写器4W等效发射功率下距读写器4m处为射频标签芯片提供足够的工作电压,并且在芯片近场时能够有效地稳定电源电压。解调信号基本正常可用。因此,该射频接口电路可满足超高频远距离无源射频标签芯片的要求,具有实用意义。
  • RFID标签芯片的灵敏度是芯片刚刚被激活所需的最小能量。灵敏度是标签芯片最重要的性能指标,它的大小直接影响RFID标签的性能,例如标签读/写距离等。因此标签芯片灵敏度准确测试是芯片测试的重要内容之一。
  • 实现基于ISO14443A协议的13.56 MHz RFID芯片的设计,并在SMIC 0.18 μm工艺下流片,芯片测试结果良好。RFID芯片模拟前端部分在AC—DC电源产生部分采用了新的结构,不需要引入LDO就可以产生稳定的电源。在数据接收部分采用了新结构,可以抵御工艺偏差引起的器件参数的变化。在数据发送部分,从系统上作了优化,使模拟部分的电路变得简单可靠。整个模拟部分的电流小于100μA.
  • 提出一种用于UHF无源RFID标签芯片阻抗测试的新方法。利用ADS仿真软件对测试原理进行了仿真并实际制作了测试板。利用设计的测试板对NXP_XM芯片和Impinj_Monza4芯片进行了测试,分析了误差产生的原因,最终测试结果符合预期效果。
  • 相对简单的存储器和逻辑芯片测试以及比较复杂的混合信号和射频/无线芯片测试的独特测试要求。由此可见,对于不同类型芯片的测试,我们需要根据相应的要求采用不同的测试策略和测试方法。