物联传媒 旗下网站
登录 注册
相位噪声
  • 纳米软件解析低相位噪声射频信号源领域的新标准用于航空电子测试测量
  • Q值一般统称品质因数,它是衡量一个元件或谐振回路性能的一个无量纲单位。简单地说是理想元件与元件中存在的损耗的比值。这个元件可以是电感、电容、介质谐振器、声表面波谐振器、晶体谐振器或LC谐振器。Q值的大小取决于实际应用,并不是越大越好。例如,如果设计一个宽带滤波器,过高的Q值如果不采取其他措施,将使带内平坦度变坏。在电源退耦电路中采用LC退耦应用时高Q值的电感和电容极容易产生自谐振状态,这样反倒不利于消除电源中的干扰噪声。反过来,对于振荡器我们希望有较高的Q值,Q值越高对振荡器的频率稳定度和相位噪声越有利。
  • ADF9010还包括高性能的整数N分频PLL,内置全集成的低噪声压控振荡器(VCO),本振(LO)的相位噪声在1MHz偏移处为–140dBc/Hz。这个本振输出信号还可以用来驱动外部RF解调器,如ADI公司的ADL5382。发射路径包括一个全集成差分Tx直接正交上变频器。
  • 本文采用零中频方案,通过仿真分析收发单天线读写器的射频模块指标设计,克服收发单天线读写器比收发双天线隔离度差的问题,制定出合理的发射载波信号的相位噪声指标和接收链路噪声系数及P1dB压缩点指标,从而设计出UHF频段(902MHz-928MHz)高集成度的2组收发单天线读写器射频模块,其输出功率能达到1W,读标签的距离可以达到5米以上。
  • 无源UHF RFID系统中使用的本地振荡器的相位噪声被证实是影响该系统最终询问范围的关键限制因素。RFID阅读机的发射功率是决定FIR的主要因素,而阅读机天线增益、本振相位噪声和Tx/Rx隔离度是决定RIR的主要因素。本文将探讨本振相位噪声对RFID询问范围的影响。
  • 无源UHF RFID系统中使用的本地振荡器的相位噪声被证实是影响该系统最终询问范围的关键限制因素。RFID阅读机的发射功率是决定FIR的主要因素,而阅读机天线增益、本振相位噪声和Tx/Rx隔离度是决定RIR的主要因素。本文将探讨本振相位噪声对RFID询问范围的影响。
  • 在本振中设定一组相位噪声,然后用谐波平衡分析的方法进行仿真,在输出端观察相位噪声的情况,同时也可以得到系统的频谱特性。
  • 本文研究了直接下变频接收机的原理和实现方案,并成功的用软硬件平台对其实现。本文的创新点在于成功的实现了直接下变频接收机,在运用锁相环电路实现2.4G本地振荡信号,试验结果表明在2.4G高频之下锁相环有锁定时间短,相位噪声小,性能稳定等优点。同时说明了实际工程中需要注意的问题和克服直接下变频接收机固有缺陷的途径,实测结果表明接收机性能良好,指标都达到了系统设计要求。