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泰克挑战RFID测试三道难关

作者:RFID世界网收录 来源:与非网 2011-12-14 09:41:43

摘要:物联网遥不可及还是近在咫尺?工信部电信研究院在2011年5月发布的物联网白皮书中预计,“十二五”期末中国物联网相关产业规模将达到5,000多亿元,形成万亿元级规模的时间节点预计在“十三五”后期。

关键词:物联网[310篇]  RFID[1176篇]  测试[34篇]   泰克[0篇]  RTSA[0篇]  

  泰克公司提供的RFID测试解决方案——RTSA和混合域分析仪及示波器MDO在研发测试阶段所能发挥的作用分为以下三个方面:

  1.读写器设备的Troubleshooting:如进行读写器信号实时频谱分析(频率、功率、调制带宽等),调制质量分析,瞬态噪声分析,跳频捕获和调制质量分析,时序测量,命令测试等;

  2.标签测试:灵敏的触发设置,捕获低调制深度标签信号,时序测量,频谱测试,负载调制能量和质量;

  3.分析和评估读写器与标签互通特性:实时频谱分析(同频频谱分析),时序测量,碰撞分析,标签调制回波质量分析。

  泰克RTSA可以在一台仪表中同时获得宽带矢量信号分析仪、频谱分析仪功能,并具备独有的触发-捕获-分析能力,可以轻松应对所有RFID应用中瞬变信号的捕获。频率达到8GHz,适合RFID所有频段要求;高达85MHz分析带宽,可满足所有RFID标准测试。其专利的DPX实时频谱技术,实现292,000频谱/秒更新速度。而超长记录时间,能够记录完整的RFID交互过程。

图4:泰克RTSA集成的DPX实时频谱显示技术非常适合RFID的读写器频谱分析。

  RTSA具有灵活的频率模板触发器(FMT),为可靠地检测和分析动态RF信号提供了一个强大的工具。它还可以用来进行传统频谱分析仪不可能完成的测量,如在存在强大的RF信号时捕获小电平瞬时事件,在拥挤的频谱范围内检测特定频率上的间歇性信号。分析仪在检测到触发事件时,能够把触发前和触发后的数据保存到内存中。一旦信号已经采集并存储在内存中,可以使用RTSA 中提供的各种时间相关视图分析信号,这种时间相关的多域分析功能提供了巨大的灵活性,可以使用各种分析工具,放大和全面检定采集的RF信号的不同部分。

  至于混合域示波器MDO4000系列在RFID研发测试中的用武之地,曾志指出,一个典型的RFID读写器系统由基带电路、射频电路、电源和接口电路等组成。除了RF部分可以使用MDO的RF测试功能进行测试外,基带电路中的大量总线信号如SPI总线、并行总线、UART或USB或Ethernet总线的系统调试,MDO可以通过增加总线解码模块的方法提供。系统中还包括DC/DC或AC/DC电源电路,以及电源管理功能模块。DPO4PWR提供了全面完善的电源设计调试方案。如果用户还有FPGA调试的需求,FPGAView可以提供基于MDO4000平台的FPGA调试工具。

图5:MDO4000系列在RFID测试中的应用之一:为调试和编程接口(JTAG)提供FPGA实时逻辑调试方案。

  对于RFID现场测试,曾志总结了泰克RTSA方案的优势和特点是:1.高性能频谱测量+多域分析;2.超宽捕获带宽,使用所有RFID信号要求;3.长时间IQ数据保存,实现现场数据采集。

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